Low-Capacitance, 2/3/4/6-Channel, ±15kV ESD
Protection Arrays for High-Speed Data Interfaces
Table 1. Reliability Test Data
TEST
Temperature Cycle
Operating Life
Moisture Resistance
Low-Temperature Storage
Low-Temperature Operational
Solderability
ESD
High-Temperature Operating Life
CONDITIONS
-35°C to +85°C,
-40°C to +100°C
T A = +70°C
-20°C to +60°C, 90% RH
-20°C
-10°C
8hr steam age
±2000V, Human Body Model
T J = +150°C
DURATION
150 cycles,
900 cycles
240hr
240hr
240hr
24hr
168hr
FAILURES PER SAMPLE SIZE
0/10,
0/200
0/10
0/10
0/10
0/10
0/15
0/5
0/45
Functional Diagrams
MAX3202E
V CC
MAX3203E
V CC
MAX3204E
V CC
MAX3206E
V CC
I/O1
I/O2
I/O1
I/O2
I/O3
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
GND
GND
GND
GND
Chip Information
PROCESS: BiCMOS
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